Congreso Internacional De Metrologia - Metrocol IV

Programación sujeta a cambios.                                                                  Descarga de Programa.

DÍA 1 

HORA CONFERENCIA CONFERENCISTA
08:00 a 08:30 REGISTRO  
08:30 a 08:40 Introducción a evento Maestro de ceremonias
08:40 a 09:00 Palabras de bienvenida Dr. Edwin Cristancho 
Director INM
09:00 a 09:10 Contexto de Metrología en el marco de la regulación. Maria Leonisa Ortíz 
Directora de regulación
09:10 a 09:20 Laboratorios acreditados y metrología. Ramón Madriñan 
Director ejecutivo
09:20 a 10:10 Perspectivas del SIM en la transición hacia la redefinición del Sistema Internacional de Unidades - SI Dr. Alan G. Steel 
Director de investigación National Research Council Canada - NRC
10:10 a 10:30  RECESO  
10:30 a 11:20  "Definiton and realization of the new Kelvin" Dr. Roberto Gavioso 
Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica Italia - INRiM
11:20 a 11:40  Trabajo externo Conferencista externo
11:40 a 12:00  Evaluación del efecto de carga en la caracterización de cámaras climáticas Ingeniero Sergio Carvajal Instituto Nacional de Metrología de Colombia
12:00 a 12:10 Sesión preguntas de Ponencias  
12:10 a 13:40   ALMUERZO LIBRE  
13:40 a 14:30 Redefinición de la unidad de corriente eléctrica “ampere” Dr David Avilés Castro 
Centro Nacional de Metrología México - CENAM
14:30 a 15:00 Trabajo externo Conferencista externo
15:00 a 15:20  RECESO  
15:20 a 16:20  “Redefinition of the mole and the impact that this would have on future measurements” Dr. Juris Meija National Research Council Canada - NRC
16:20 a 16:50  Trabajo externo Conferencista externo
16:50 a 17:00  Cierre de jornada Maestro de ceremonias

DÍA 2

 HORA  CONFERENCIA  CONFERENCISTA
 08:00 a 08:20  REGISTRO  
 08:20 a 08:30  Apertura jornada Maestro de ceremonias
 08:30 a 09:00  Implementación de una metodología de medición de los coeficientes de resistencia al movimiento para vehículos en Colombia Juan Camilo López Restrepo 
Universidad Tecnológica de Pereira
 09:00 a 09:50  Realización de la nueva definición del ampere Dr David Avilés Castro 
Centro Nacional de Metrología México
 09:50 a 10:20  Trabajo externo Conferencista externo
 10:20 a 10:30  Respuesta a la Solicitud de reconocimiento como “Centro de Investigación” Sonia Monroy Subdirectora 
COLCIENCIAS
 15:00 a 15:20  RECESO  
 10:50 a 11:20 Foro: Impacto de la metrología química en el sector productivo, la academia y la investigación

Moderador: 
Diego Alejandro Ahumada 
Instituto Nacional de Metrología 

Participantes: 
Dr Elena Stashenko 
Universidad Industrial de Santander

Dr Katalina Muñoz Durán 
Directora de investigación Centro de investigación en nutrición, salud y bienestar

Dr Juris Meijer 
National Research Council Canada-NRC

Dr Camilo Jiménez 
Universidad Javeriana

 11:20 a 11:50 Foro: Impacto de la metrología física en el sector productivo, la academia y la investigación

Moderador: 
Alexander Martínez
Instituto Nacional de Metrología

Participantes:
Dr Daniel Duque ARGOS

Dr David Avilés Castro  CENAM

Dr María Cristina Plazas Universidad Nacional

Dr Eduardo Posada Asociación Colombiana para el Avance de la Ciencia

Dr Ramón Madriñan ASOSEC

 11:50 a 12:40  “Traceability in chemical measurements from the perspective of not just the physical traceability of methods and standards but focus on the traceability in data analysis”

Dr. Juris Meija
National Research Council Canada NRC

 12:40 a 14:00  ALMUERZO LIBRE  
 14:00 a 14:20  Automatización en metrología para el INM de Colombia José Eduin Culma 
Instituto Nacional de Metrología
 14:20 a 14:40  Proyecciòn de la Metrología química en el INM Luis Alfredo Chavarro 
Subdirector de Metrología Química y Biomedicina - INM
 14:40 a 15:00  Sesión preguntas de Ponencias  
 15:30 a 15:50  RECESO  
 15:50 a 16:40  "Future perspectives of thermometry and gas metrology" Dr. Roberto Gavioso 
Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica Italia - INRiM
 16:40 a 17:00  Cierre de jornada Maestro de ceremonias

 

 

 


 

Invitación a las personas interesadas en asistir y participar con trabajos técnicos en el CONGRESO INTERNACIONAL DE METROLOGIA - METROCOL IV.

Temática: El sistema internacional de unidades en evolución constante.

Fecha: 01 y 02 de noviembre de 2018

Hora: 08:15 - 17:00

Lugar: Auditorio INM Bogotá, Colombia

Objetivo: Dar a conocer trabajos de investigación de nuevos métodos de medición,

Temáticas de Trabajo:

La participación no tiene costo, cupos limitados.

Anímate a presentar tus trabajos técnicos, fecha límite de inscripción 15 de octubre de 2018, debes solicitar los requerimientos del modelo al correo de contacto  Esta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verlo..